扫查面盲区高度测定试块 NB/T47013-2015
更新时间：2019-02-10 点击次数：110次
该类试快依据扫查面盲区高度测定试块的要求而设计，适用于测定初初始扫差面的盲区高度。
超声探伤、磁粉探伤、射线探伤、渗透探伤
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